Übersicht Mikroskopkalibration, Test- und Referenzstandards

Kalibrationsstandards sind unverzichtbare Hilfsmittel zur Kalibrierung von Mikroskopen und Röntgenanalysesystemen. Nur kalibrierte Systeme liefern präzise Daten. Diese Übersicht zeigt die erhältlichen Kalibrationsstandards für REM, FIB-REM, TEM, EDX/WDX, LM und digitale Mikroskopiesysteme. Diese vielseitigen, präzisen und preisgünstigen Kalibrationsstandards ermöglichen optimale Kalibration Ihres Mikroskops.
 

REM - FIB - FE-REM - Tabletop REM
MCS-0.1 und MCS-1 rückverfolgbarer oder zertifizierter Vergrößerungs-Kalibrierstandards	MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandard für mittlere und geringe Vergrößerungen, rückverfolgbar	LAMC-15rückverfolgbarer, großflächiger Vergrößerungsstandard
M-1 & M-10 Kalibrationsstandard, mit 1 und 10 µm Raster, rückverfolgbar	Gold auf Kohle Auflösungsstandards	Zinn auf Kohle Auflösungsstandards
REM / EDX / WDS
EDX / WDX kompakte Kalibrationsstandards	EDS / WDS reference standard for quantitative analysis	Faraday-Käfig zur Strahlstrommessung
TEM - TEM / EDX
TEM Auflösungsstandards	TEM Teststandards	TEM EDX Standards
MAG*I*CAL Kalibrierstandard
AFM-SPM
AFM Spitzentestprobe	AFM XYZ Kalibrierstandards	HOPG Standard-Substrate
LM – digitale Mikroskopie
Objektmikrometer auf Glas; linear, kreuz- und Mischmaße, optional zertifiziert	Micro-Tec Silizium-basierte Kreuzmaße; linear, kreuz- und Mischmaße, rückverfolgbar	Micro-Tec MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandards, rückverfolgbar