EM-Tec FIB angeschrägte oder vorgekippte Stiftprobenhalter
Standard REM Stiftprobenteller
EM-Tec FIB lift-out Grid Ablageboxen
EM-Tec FIB niedrig Profil Stiftprobenteller
EM-Tec FIB lift-out Grids
EM-Tec FIB lift-out Gridhalter
EM-Tec FIB lift-out Grid Ablageboxen
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EM-Tec FIB lift-out Grids
EM-Tec FIB lift-out Gridhalter
EM-Tec FIB angeschrägte oder vorgekippte Stiftprobenhalter
Einleitung
Beispiel
Angeschrägte Probenhalter sind nützlich beim Einsatz in FIB-REM-Systemen, um die Probe rechtwinklig zur FIB-Säule zu positionieren. Dies ermöglicht gerades FIB-Milling in die Probenoberfläche. Die angeschrägten Winkel passen zum jeweiligen Winkel zwischen FIB- und Elektronensäule. Durch die angeschrägten Probenhalter muss die Probenbühne nicht oder weniger stark gekippt werden. Drei Modelle sind erhältlich:
- EM-Tec P38 Probenhalter mit fester 38° Schräge für FEI Pin Stubs. Für eine Vorkippung der Probe um 38° für FEI Dual Beam FIB-Systeme. Größe ohne Pin: Ø 12,7 x 17 mm
- EM-Tec P36 Probenhalter mit fester 36° Schräge für ZEISS Pin Stubs. Für eine Vorkippung der Probe um 36° für Zeiss CrossBeam FIB-Systeme. Größe ohne Pin: Ø 12,7 x 17 mm
- EM-Tec P35 Probenhalter mit fester 35° Schräge für Standard und TESCAN Pin Stubs. Für eine Vorkippung der Probe um 35° für TESCAN FIB-Systeme. Größe ohne Pin: Ø 12,7 x 17 mm
Specifications of the EM-Tec pre-til stub holders
Product # |
Art |
Winkel |
FIB/REM |
Aufname |
Größe o. Pin |
Stub-Befestigung |
10-002238 |
P38 |
38° |
FEI |
Ø3.2mm pin |
Ø12.7x17mm |
Stellschraube |
10-002236 |
P36 |
36° |
Zeiss |
Ø3.2mm pin |
Ø12.7x17mm |
Stellschraube |
10-002235 |
P35 |
35° |
Tescan |
Ø3.2mm pin |
Ø12.7x17mm |
Stellschraube |
Bestellangaben für EM-Tec FIB vorgekippte Stiftprobenhalter
*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
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