HOPG Substrate - Highly Ordered Pyrolytic Graphite für AFM/SPM/STM
bietet atomar flache Flächen die als Probenunterlage und zur Kalibrierung der Vergrößerung eingesetzt werden können


HOPG Substrate - Highly Ordered Pyrolytic GraphiteHOPG Substrate in den Güteklassen ZYA, ZYB und ZYH

Einleitung

HOPG – Highly Ordered Pyrolytic Graphite ist eine sehr reine, hochgradig geordnete Form synthetischen Graphits. Es wird charakterisiert durch den Winkel seines Mosaik-Streubereichs. HOPG ist ein laminares Material und besteht aus geschichteten Polykristallen, die einem Mosaik von Einkristallkörnern ähneln, die in Bezug aufeinander leicht desorientiert sind. Die Größe der einzelnen Kristalle variiert zwischen 1 und 10 µm. Ein niedriger Mosaik-Streubereichswinkel bedeutet eine bessere Ausrichtung der Graphitkristalle. Bei den besten HOPG Proben liegt der Mosaik-Streubereichswinkel unter einem Grad. Das frisch gespaltene HOPG Substrat bietet atomar flache Flächen die als Probenunterlage und zur Kalibrierung der Vergrößerung in der Scanning Probe Mikroskopie (AFM, SPM, STM) eingesetzt werden können. Wie bei Mica, kann man frische Oberflächen durch Spalten des Chips gewinnen.
HOPG wird aus verkoktem Graphit unter Druck und Temperaturen über 3000°C hergestellt. Das leitfähige Material ist stabil bis 2000°C.
Erhältlich in drei Qualitäten mit 0,4°, 0,8° und 3,5° Mosaik-Streubereich. Die Größe der Chips beträgt 10 x 10 mm, die Dicke 1 oder 2 mm. Die Chips sind alle doppelseitig, was bedeutet, dass sie mit voller Dicke oder gespalten von beiden Seiten genutzt werden können. 

HOPG Güteklassenspezifikationen

Güteklasse

ZYA

ZYB

ZYH

Artikelnr.

10-008311 / 10-008322

10-008333

10-008341 / 10-008342

Mosaik-Streubereich

0,4°

0,8°

3,5°

Genauigkeit

0,1°

0,2°

1,5°

Schichten

Double

Dicke

1 or 2mm

1mm

1 or 2mm

Chip-Größe

10 x 10mm

Anwendungsbereich

SPM, STM, AFM, X-ray



Bestellinformationen zu HOPG Highly Oriented Pyrolytic Graphite Chips

HOPG Güteklasse ZYA,  Mosaik-Streubereich 0,4° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip HOPG Güteklasse ZYA, Mosaik-Streubereich 0,4° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-008311 HOPG Güteklasse ZYA, Mosaik-Streubereich 0,4° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip
Qty:

Stück €468,00

 

HOPG Güteklasse ZYA,  Mosaik-Streubereich 0,4° , doppeltseitig, 10 x 10 x 2 mm Chip HOPG Güteklasse ZYA, Mosaik-Streubereich 0,4° , doppeltseitig, 10 x 10 x 2 mm Chip
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-008322 HOPG Güteklasse ZYA, Mosaik-Streubereich 0,4° , doppeltseitig, 10 x 10 x 2 mm Chip
Qty:

Stück €700,00

 

HOPG Güteklasse ZYB,  Mosaik-Streubereich 0,8° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip HOPG Güteklasse ZYB, Mosaik-Streubereich 0,8° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-008333 HOPG Güteklasse ZYB, Mosaik-Streubereich 0,8° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip
Qty:

Stück €125,00

 

HOPG Güteklasse ZYH,  Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip HOPG Güteklasse ZYH, Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-008341 HOPG Güteklasse ZYH, Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip
Qty:

Stück €67,00
10-008341-5 HOPG Güteklasse ZYH, Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 1 mm Chip
Qty:

Pack/5 €245,00

 

HOPG Güteklasse ZYH,  Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 2 mm Chip HOPG Güteklasse ZYH, Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 2 mm Chip
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-008342 HOPG Güteklasse ZYH, Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 2 mm Chip
Qty:

Stück €90,00
10-008342-5 HOPG Güteklasse ZYH, Mosaik-Streubereich 3,5° , doppeltseitig, 10 x 10 x 2 mm Chip
Qty:

Pack/5 €360,00

 



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Bullseye Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Vakuumprobenaufbewahrung

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit
  Bedampfungsmaterialien
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Edelstahlgewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Replika-Folien
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  PTFE Becher