EM-Tec transmission-EBSD Probenhalter für TEM und FIB Grids
EM-Tec EBSD vorgekippter Probenhalter und Kits
Übersicht EM-Tec REM Probenhalter
EM-Tec transmission-EBSD Probenhalter für TEM und FIB Grids
für die Herstellung von Kikuchi Transmissions-Patterns
| Transmissions-EBSD oder t-EBSD | EBSD |
Einleitung
EBSD Analyse ist ein leistungsstarkes mikrostrukturelles, kristallographisches Analyseverfahren für kristalline oder polykristalline Materialien. Standard EBSD Analyse bei Massenproben und Oberflächen wird bei stark gekippten Proben (typisch 70° horizontal) durchgeführt. Der EBSD Pattern zeigt dir Kristallorientierung und bei polychristalinen Materialien die Änderungen der Orientierung unter den Kristallen. Für optimale EBSD Resultate werden nicht deformierte, polierte Oberflächen benötigt.
Transmissions-EBSD-Analyse ist nur mit sehr dünnen TEM Proben möglich, die auf ein TEM Grid aufgebracht sind oder an einer TEM-Lamelle, befestigt an einem FIB Grid. EBSD Analyse dünner Proben kann im Backscatter-Modus bei 70° Kippung (horizontal) oder im Transmissions-Modus bei 20° (horizonal) durchgeführt werden. Für Transmissions-EBSD oder t-EBSD ist es extrem wichtig, das die gesendeten Elektronen den EBSD Detektor ohne jegliche Behinderung ereichen.
Die EM-Tec t-EBSD Halter wurden speziell für die Herstellung von Kikuchi Transmissions-Patterns entwickelt. Die Transmissions-EBSD-Halter verfügen über eine Ø2 mm Öffnung in ihrer Basis. Das Oberteil, ein Clip aus Phosphorbronze, das den TEM oder FIB Grid klemmt, ist wie eine Gabel geformt. Transmissions-EBSD Abbildungen oder Analyse sind über den gesamten Bereich der Ø2 mm Öffnung möglich. Die EM-Tec t-EBSD Halter können je nach Ausführung 1 oder 3 Grids halten. Die Auswahl umfasst:
- EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalter für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin. Zum Montieren auf einem existierenden, vorgekippten EBSD Halter für Stiftprobenteller
- EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalter für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin. Zum Montieren auf einem existierenden, vorgekippten EBSD Halter für Stiftprobenteller
- EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Std. Pin / M4 Gewinde
- EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, Std. Pin / M4 Gewinde
Daten, Maße und Spezifikationen den EM-Tec t-EBSD Probenhaltern und Probenhalter-Kits
Artikelnr. |
Typ |
Kippwinkel |
Maße ohne Pin |
TEM Grids |
Aufnahme |
EM-Tec T1 |
– t-EBSD |
6x11x4,5 mm |
1 |
3,2mm Pin Stub |
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EM-Tec T3 |
– t-EBSD |
16x11x4,5 mm |
3 |
3,2mm Pin Stub |
|
EM-Tec TE1 |
70° /20° t-EBSD |
Ø12,7 x 30 mm |
1 |
3,2mm Pin Stub |
|
EM-Tec TE3 |
70° /20° t-EBSD |
Ø12,7 x 30 mm |
3 |
3,2mm Pin Stub |
|
EM-Tec TE1 |
70° /20° t-EBSD |
Ø12,7 x 30 mm |
1 |
M4 Gewinde |
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EM-Tec TE3 |
70° /20° t-EBSD |
Ø12,7 x 30 mm |
3 |
M4 Gewinde |
Bestellinformationen zu den EM-Tec t-EBSD Haltern für TEM oder FIB Lift-Out Grids. Zum Montieren auf einem existierenden, vorgekippten EBSD Halter für Stiftprobenteller. Für REM mit Pin Stub Aufnahme; TFS, FEI, Philips, Zeiss, LEO, TESCAN, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, und CamScan
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