EM-Tec Probenteller für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil


Einleitung
  Beispiele   
  Beispeilen von EM-Tec Probentellern für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil

 

Die Probenteller mit niedrigem Profil wurden speziell für FIB- und REM-Anwendungen entwickelt, um kurze Arbeitsabstände zwischen Probe und Polschuh des FIB-/REM-Systems zu ermöglichen. Sie sind erhältlich als flache, vertikal und im FIB-Winkel angeschrägte Versionen auf Standard Ø 12,7 mm Probentellern und eine flache Version der Standard Ø 25,0 mm Probenteller. Die im FIB-Winkel angeschrägten Versionen erlauben, die Probenoberfläche im rechten Winkel zur FIB-Säule zu untersuchen, ohne die Probenbühne zu kippen. Der Kippwinkel ist relativ zur vertikalen Elektronensäule des FIB-REM-Systems. Die Probenteller sind aus für Vakuum geeignetem Aluminium hergestellt und voll kompatibel mit Standardprobentellern zur Ablage und für das Handling.


Erhältlich als folgende Modelle:

  • Niedrigprofilige, flache, horizontale Stiftprobenteller mit kurzem oder Standard Pin
  • Niedrigprofilige, Ø25,0 mm flache, horizontale Stiftprobenteller mit Standard Pin
  • Niedrigprofilige, 90° vertikale Stiftprobenteller mit kurzem oder Standard Pin
  • 38° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für FEI DualBeam und FIB-REM-Systeme
  • 36° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für Zeiss CrossBeam und FIB-REM-Systeme
  • 35° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für TESCAN LYRA FIB/SEM, GAIA UHR FIB/SEM, FERA Plasma FIB/SEM, XEIA Plasma UHR FIB/SEM Systeme

Spezifikationen vonProbenteller für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil

Artikelnr.   

Winkel

FIB/REM

Durchmesser

Standard Pin

Kürzer Pin

Gestuft

10-002112

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

-

10-002126

FEI, Tescan

Ø25 mm

V

-

-

10-002114

90°

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-002115

35°

Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-002118

38°

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-003112

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

-

10-003114

90°

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

V

10-003116

36°

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

V



Bestellangaben Probenteller mit niedrigem Profil für FEI und/oder TESCAN FIB-REM-Systeme

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002112-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €7,50
10-002112-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €14,25
10-002112-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €67,50

 

EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002126-5 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €18,75
10-002126-10 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €36,00
10-002126-50 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €177,50

 

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002114-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €10,50
10-002114-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €19,50
10-002114-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €94,50

 

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002115-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €13,00
10-002115-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €25,00
10-002115-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €118,50

 

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002118-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €13,00
10-002118-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €25,00
10-002118-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €118,50

 

Bestellangaben Probenteller mit niedrigem Profil für ZEISS FIB-REM-Systeme

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003112-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €7,50
10-003112-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €14,25
10-003112-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €67,50

 

ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003114-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €10,50
10-003114-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €19,50
10-003114-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €94,50

 

ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003116-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €13,00
10-003116-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €24,50
10-003116-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €116,50

 



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Bullseye Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Vakuumprobenaufbewahrung

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit
  Bedampfungsmaterialien
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Edelstahlgewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Replika-Folien
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  PTFE Becher