
Die neuen und innovativen Micro-Tec Koordinatenkalibrierstandards bestehen aus einm ultraflachen, leitenden Siliciumsubstrat mit korrosionsbeständigen Linien aus Chrom. Sie wurden unter Verwendung neuester Halbleiterproduktionsverfahren hergestellt. Für einfache Kalibrierung weisen die Micro-Tec Koordinatenkalibrierstandards einen hohen Bildkontrast auf. Jeder Kalibrierstandard verfügt über eine im Standard eingeätzte Produkt-ID mit individueller Seriennummer. Micro-Tec Koordinatenkalibrierstandards ist voll NIST rückverfolgbar und wird mit einem Rückverfolgungszertifikat geliefert. Micro-Tec Koordinatenkalibrierstandards sind bestens geeignet für:
Die Familie der Micro-Tec Koordinatensysteme auf Siliciumbasis für Hellfeldanwendungen besteht aus:
Die aufgebrachten Linien aus Chrom befinden sich in derselben Fokussierebene wie das Substrat. Dadurch sind die Linien definierter und liefern ein besseres Signal als geätzte Muster. Sie sind zudem unanfälliger gegenüber Schmutzpartikeln in den Mustern.
| Substrat | 525 µm dicker, ultraflacher Wafer mit <100> Orientierung |
| Leitfähigkeit | Sehr gut, 5-10 Ohm Widerstand |
Linien |
75 nm dicke, 5,0 µm breite Chromlinien |
Kennzeichnung |
Produkt-ID mit eingeätzter Seriennummer |
Befestigung |
Nicht montierter Standard |
Lieferung |
Geliefert in Gel-Pak Box |
Artikelnr. |
Name |
Rastergröße |
Einheiten/Einteilung |
Größe |
Rückverfolgbar |
Befestigung |
Micro-Tec CCS-1 |
1 mm Kreuz |
0,01 mm |
3,5x3,5 mm |
Ja, NIST |
Optional |
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Micro-Tec CCS-5 |
5 mm Kreuz |
0,01 mm |
6,0x6,0 mm |
Ja, NIST |
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Micro-Tec CCS-10 |
10 mm Kreuz |
0,01 mm |
12,0x12,0 mm |
Ja, NIST |
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Micro-Tec LCS-10 |
10 mm lang |
1,0 / 0,1 / 0,01mm |
6,0x12,0 mm |
Ja, NIST |
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Micro-Tec CCS-2,5 |
1 Zoll Kreuz |
0,001 Zoll |
3,5x3,5 mm |
Ja, NIST |
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Eine alternativer Kalibrierstandard ist der MTC-5 Mehrfach-Kalibrierstandardmit Kreuzskale, Kreismustern, quadratischen und sechseckigen Mustern. Er deckt sowohl die Kalibrierung der Vergrößerung als auch die Beurteilung von Bildverzerrungen ab. Erhältlich für Hellfeld- und Dunkelfeldanwendungen.
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