Übersicht Pinzetten für (Elektronen) Mikroskopie

Micro to Nano bietet ein großes Sortiment an Pinzetten, welches die gesamte Bandbreite an Anwendungen abdeckt. Die Auswahl an Pinzetten beinhaltet sowohl gewöhnliche als auch hochspezialisierte Pinzetten. Die Pinzetten sind in fünf unterschiedliche Gruppen aufgeteilt:

  • EM-Tec hochqualitative und hochpräzise Pinzetten für EM, Probenpräparation und spezielle Mikroskopieanwendungen. Sie wurden aus paramagnetischem (nicht magnetischem) Edelstahl, aus Titan oder Kohlefaser-verstärktem Kunststoff hergestellt.
  • EM-TEC REM Probenteller-Pinzetten und -Greifer zum Umgang mit verschiedenen Probentellern und Zylinder-Stubs mit einem Durchmesser zwischen 10 und 32 mm.
  • EM-TEC Gatan 3View Stub Greiferpinzetten und Kryo-Grid-Box Greiferpinzetten
  • Micro-Tec Pinzetten für AFM-Anwendungen sowie AFM / SPM Disk-Greiferpinzetten,
    gefertigt aus paramagnetischem (nicht magnetischem) Edelstahl
  • Value-Tec Universalpinzetten und Pinzette für industrielle Zwecke mit, von feinen über mittlere bis zu robusten Pinzetten

Das umfangreiche Sortiment an Pinzetten beinhaltet:

   
Pinzette Zubehör


REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Bullseye Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Vakuumprobenaufbewahrung

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit
  Bedampfungsmaterialien
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Edelstahlgewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Replika-Folien
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  PTFE Becher