CMC korrelative Deckgläschen
Für Lichtmikroskopie, Fluoreszenz-Mikroskopie, REM, TEM und mehr



Einleitung

Die korrelativen CMC Deckgläschen (Correlative Microscopy Coverslips) werden unter Nutzung eines auf Polyester basierenden Filmgitternetzes hergestellt. Sie sind speziell darauf zugeschnitten, interessante Bereiche einer Probe mit dem Hellfeld- oder Fluoreszenz-Mikroskop zu identifizieren und zu lokalisieren und diese dann unter dem Elektronenmikroskop weiter zu untersuchen.
Das Material der korrelativen CMC Deckgläschen ist kompatibel mit dem Wachstum von Zellkulturen und bietet diesen eine gute Haftgrundlage.

Merkmale und Vorteile der korrelativen CMC Deckgläschen:

  • Gute optische Qualität in Hellfeld- und Fluoreszenz-Mikroskopie
  • Hervorragende Transparenz
  • Einsatzbereich zwischen -196°C und +100°C
  • Steif – treibt nicht in der Mitte der Kultur
  • Beständig gegenüber in der EM gebräuchlichen Chemikalien
  • Keine Sauerstoffspeicherung; kompatibel mit LR weißem Kunstharz
  • Einfache Sterilisation durch Alkohol oder UV
  • Einfacher Gebrauch, einfaches Schneiden oder Ausstanzen
  • Auswahl aus drei verschiedenen Rastern
  • Preiswert


Spezifikationen der korrelativen CMC Deckgläschen für die Mikroskopie:

Produkt

CMC 34A

CMC 35

CMC 71

Artikelnr.

51-002834

51-002835

51-002871

Raster-Gesamtgröße

5 St. 1 x 1 mm

5 x 5 mm Fläche

10 x 10 mm

10 x 10 mm

Einteilungen

0,1 x 0,1 mm

1 x 1 mm

0,5 x 0,5 mm

Dicke

0,18 mm

Material

Polyester

Deckglasgröße

22 x 22 mm

Die korrelativen CMC Deckgläschen wurden nicht dafür entwickelt, die optisch überlegenen Deckgläschen aus Glas oder Quarz zu ersetzen. Der Film selbst hat eine Struktur, die unter gewissen Beleuchtungsbedingungen sichtbar werden kann. Die CMC Deckgläschen wurden für korrelative Mikroskopie bei Nutzung unterschiedlicher Abbildungstechniken entwickelt. Zuerst findet eine generelle Untersuchung unter dem Lichtmikroskop statt. Danach wird die Probe für die Analyse in REM oder TEM weiter behandelt. Der Hauptvorteil ist, dass der Film leicht zu schneiden oder auszustanzen ist und dann im EM weiter untersucht werden kann.

Gebrauch der korrelativen CMC Deckgläschen für die Mikroskopie:

  1. Sterilisieren Sie das korrelative CMC Deckgläschen mit Alkohol, trocknen Sie es und fügen Sie die Kultur hinzu.
  2. Stellen Sie sicher, dass das Raster des korrelativen Deckgläschens korrekt positioniert ist und dass Buchstaben oder Nummern lesbar sind
  3. Nehmen Sie die benötigten Bilder auf und notieren Sie die Koordinaten der Bereiche von Interesse.
  4. Fixieren, dehydrieren und mit TEM Harz.
  5. Legen Sie die BEEM Kapsel, welche mit Harz gefüllt ist auf das Deckglas über die ausgewählte Region von Interesse
  6. Harz härten, das korrelative Deckglas abziehen; der Abdruck des Gitters im Harz zeigt die gewählte Region, schneidet den Block in der gewählten Region und machten Sie einen Schnitt mit einem Ultramikrotom

Bestellinformationen zu den korrelativen CMC Deckgläschen für die Mikroskopie

CMC34A korrelative Deckgläschen 5x 1 x 1 mm mit 0,1 mm Einteilungen
CMC34A korrelative Deckgläschen 5x 1 x 1 mm mit 0,1 mm Einteilungen CMC34A - 10 x 10 Raster mit 0,1 mm Quadraten, 5x auf dem Deckgläschen verteilt. Oben von 1 bis 10 nummeriert, seitlich von A bis J bezeichnet. Die fünf 1 x 1 mm Gitter sind mit A bis E bezeichnet. Gesamtfläche 5x 1 mm².
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
51-002834 CMC34A korrelative Deckgläschen 5x 1 x 1 mm mit 0,1 mm Einteilungen
Qty:

Pack/25 €78,50


CMC35 korrelative Deckgläschen 10 x 10 mm mit 1 mm Einteilung
CMC35 korrelative Deckgläschen 10 x 10 mm mit 1 mm Einteilung CMC35 - 10 x 10 Raster mit 1 mm Quadraten. Jedes Quadrat hat eine individuelle Nummer von 0 bis 99. Gesamtfläche 100 mm².
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
51-002835 CMC35 korrelative Deckgläschen 10 x 10 mm mit 1 mm Einteilung
Qty:

Pack/25 €64,50


CMC71 korrelative Deckgläschen 10 x 10 mm mit 0,5 mm Einteilung
CMC71 korrelative Deckgläschen 10 x 10 mm mit 0,5 mm Einteilung CMC71 - 20 x 20 Raster mit 0,5 mm Quadraten. Oben von 1 bis 20 nummeriert, seitlich von A bis T bezeichnet. Zahlen und Buchstaben wiederholen sich im mittigen Kreuz. Gesamtfläche 100 mm².
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
51-002871 CMC71 korrelative Deckgläschen 10 x 10 mm mit 0,5 mm Einteilung
Qty:

Pack/25 €64,50




REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Bullseye Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Vakuumprobenaufbewahrung

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit
  Bedampfungsmaterialien
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Edelstahlgewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Replika-Folien
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  PTFE Becher