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Probenteller zur Aufnahme von Kalibrierstandards


Kalibrierstandards können nicht montiert oder montiert erworben werden. Die Probenteller zur Aufnahme von Kalibrierstandards sind:

 -1 #10-002012  Standard Stiftprobenteller, Ø 12,7 mm, 9,5 mm hoher Stift   REM Stiftprobenteller,
Ø 12,7 mm Kopf, Standard Pin, Aluminium
SEM pin stub Ø12.7 diameter top, standard pin, aluminium
 -2  #10-003012 ZEISS Stiftprobenteller, Ø 12,7 mm, 6 mm hoher Stift ZEISS Stiftprobenteller,
Ø 12,7 mm Kopf, kurzer Pin, Aluminium
Zeiss pin stub Ø12.7 diameter top, standard pin, aluminium
 -3  #10-002025 Großer Stiftprobenteller, Ø 12,7 mm, 9,5 mm hoher Stift REM Stiftprobenteller, Ø 25,4 mm Kopf, Standard Pin, Aluminium Large Pin Stub Ø25mm, 9.5mm pinH aluminium
-4 #10-003025 Großer Stiftprobenteller, Ø 12,7 mm, 6 mm hoher Stift ZEISS Stiftprobenteller,
Ø 25,4 mm Kopf, kurzer Pin, Aluminium
Large Pin Stub Ø25mm, 6mm pinH, aluminium
 -5 #10-005110 JEOL Probenteller, Ø 9,5 x 9,5 mm, zylindrisch JEOL Probenteller,
Ø 9,5 x 9,5 mm, zylindrisch, Aluminium
JEOL  Ø9.5x9.5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
 -6  #10-005112 JEOL Probenteller, Ø 12,2 x 10 mm, zylindrisch JEOL Probenteller,
Ø 12,2 x 10 mm, zylindrisch, Aluminium
JEOL  Ø12.2x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium
-7  #10-005125  JEOL Probenteller, Ø 25 x 10 mm, zylindrisch JEOL Probenteller,
Ø 25 x 10 mm, zylindrisch, Aluminium
JEOL Ø25x10mm Cylinder Stub, aluminium
-8  #10-004015 Hitachi Probenteller, Ø 15 x 6 mm, M4, zylindrisch  Hitachi Probenteller,
Ø 15 x 6 mm, M4 zylindrisch, Aluminium
Hitachi Ø15x6mmxM4 Cylinder Stub
 -9 #10-004025 Hitachi Probenteller, Ø 25 x 6 mm, M4, zylindrisch  Hitachi Probenteller,
Ø 25 x 6 mm, M4 zylindrisch, Aluminium
Hitachi Ø25x6mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium
-10  Kunde liefert Custom-Spezialaufnahme, Probenteller wird vom Kunden geliefert
-11 #51-001001 Schwarzer Objektträger Schwarzer Objektträger Black metal slide

Falls Sie einen Kalibrierstandard auf mehreren REM mit unterschiedlichen Probentelleraufnahmen nutzen wollen, empfehlen wir den Einsatz unserer EM-Tec Probentelleradapter.

Falls Sie einen Kalibrierstandard auf einem anderen Probenteller haben möchten, können Sie uns den betreffenden Probenteller zusenden und wir befestigen den Standard für Sie (Custom-Spezialaufnahme).


TSB 062115-2 Probenteller zur Aufnahme von Kalibrierstandard, Revision 1



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Bullseye Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Vakuumprobenaufbewahrung

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit
  Bedampfungsmaterialien
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Edelstahlgewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Replika-Folien
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  PTFE Becher